局放儀
(一)試驗(yàn)?zāi)康?/span>
(1) 證實(shí)試品在規(guī)定電壓下沒有高于規(guī)定值之局部放電；
(2) 測(cè)定電壓上升時(shí)出現(xiàn)放電超過某一規(guī)定值時(shí)的*低電壓(起始放電電壓)和電壓下降時(shí)放電低于規(guī)定值時(shí)*高電壓(終止放電電壓)。
(3) 測(cè)定在某一規(guī)定電壓下的放電強(qiáng)度。
(二)試驗(yàn)條件
(1) 交流電源電壓應(yīng)為正弦波，不應(yīng)有過大的高次諧波。
(2) 試品的電氣、機(jī)械、溫度條件應(yīng)良好且穩(wěn)定。
(3) 由于電壓回滯現(xiàn)象的影響，在試驗(yàn)前至少幾小時(shí)以上的時(shí)間內(nèi)，不要承受超過規(guī)定的局部放電試驗(yàn)電壓*高值以上的電壓。
(4) 經(jīng)過搬運(yùn)后的試品，必須靜放一段時(shí)間后再做局部放電試驗(yàn)(油浸)。
(三)試驗(yàn)程序
1. 將試驗(yàn)區(qū)內(nèi)的雜物盡量移到試區(qū)以外，各種金屬物體應(yīng)牢固接地，檢查和改善試區(qū)內(nèi)一切可能放電的部位，應(yīng)特別注意各種地線是否已接地。
2. 根據(jù)不同的試品和試驗(yàn)條件，選擇正確的接線方式。
3. 對(duì)所選擇的測(cè)試回路用視在放電量校準(zhǔn)器對(duì)整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行刻度系數(shù)校正，校正時(shí)對(duì)所規(guī)定的刻度系數(shù)K值調(diào)節(jié)儀器的增益旋鈕，把分刻度系數(shù)H調(diào)到H=U0C0/K值。校正完畢后，測(cè)試儀器的細(xì)調(diào)（連續(xù)調(diào)節(jié)）增益旋鈕不得隨意變動(dòng)，同時(shí)應(yīng)將視在放電量校準(zhǔn)器從高壓線路上取下，以免在加壓試驗(yàn)時(shí)將視在放電量校準(zhǔn)器擊穿而使高壓線路短路。